OEE (Overall Equipment Effectiveness) - Общая эффективность оборудования

«OEE - Это всё равно что использовать ваш вес, умноженный на ваш рост, умноженный на ваше систолическое кровяное давление, как меру того, насколько вы хорошо выглядите».
- Доктор Дональд Уилер


Дональд Уилер (Donald J. Wheeler) — статистик-консультант, которому посчастливилось работать с Дэвидом Чамберсом в период с 1970 по 1989 г.

Начиная с 1971 г. Уилер преподавал статистическое управление процессами, сначала — студентам университета штата Теннесси, затем — менеджерам промышленных предприятий многих стран мира.

С середины 1970-х годов он активно работал как консультант.

В 1974 г. Дональд Уилер впервые прослушал курс лекций доктора Деминга и остался его студентом навсегда.

Начиная с 1981 г. он иногда помогал Эдвардсу Демингу проводить его четырехдневные семинары. Его собственная философия улучшения процессов твердо покоится на философии Деминга. Дональд Уилер — автор и соавтор шести книг и более чем 60 статей по статистическому управлению процессами.

Ему довелось поработать с самыми разными промышленными предприятиями мира. Он читает лекции как в США, так и за их пределами.

Дональд Уилер получил степень бакалавра по физике и математике в университете штата Техас, в Остине, а в Южном методистском университете — степени магистра наук и доктора философии.

С 1970 по 1982 г. он преподавал на факультете статистики университета штата Теннесси. В 1982 году Уилер оставил преподавательскую деятельность и сосредоточился на консалтинге в промышленности и других сферах. В настоящее время Дональд Уилер живет в г. Ноксвилле, штат Теннесси.

Д-р Дональд Дж. Уилер является членом Американской статистической ассоциации и Американского общества качества, лауреат медали 2010 года Деминга, является одним из ведущих авторитетов в мире в области статистического управления процессами и прикладного анализа данных.

Соавтор книги бестселлера [4] "Статистическое управление процессами. Оптимизация бизнеса с использованием контрольных карт Шухарта" / "Understanding Statistical Process Control".

0